Dr. Thorsten Hesjedal, PDI, Berlin
Donnerstag, den 04.12.1997, 16:00
In diesem Vortrag werden akustische Rastersondenmethoden vorgestellt, die
auf dem STM und dem AFM beruhen. Ziel ist es, mit Hilfe dieser Methoden
elastische Eigenschaften von Nanostrukturen und d¸nnen Schichten mit hoher
lateraler Auflösung zu gewinnen. Dazu wird die Wechselwirkung von
akustischen Wellen, im besonderen von akustischen Oberflächenwellen, mit
diesen Objekten untersucht. Das zentrale Problem ist dabei die Detektion
der hochfrequenten Oszillationen mit STM und AFM, welches sowohl
prinzipieller wie auch technischer Natur ist. Der Schlüssel zur Detektion
ist die nichtlineare Tunnel- bzw. Kraftkennlinie von STM und AFM als
Funktion des Spitzen-Proben-Abstands. Damit ergibt sich die Möglichkeit,
die Prinzipien der homodynen und heterodynen Signaldetektion auf
Rastersondenmikroskope auszudehnen. Es lassen sich so
amplituden-proportionale Signale, wie auch die Phase von akustischen Wellen
gewinnen. Amplitudenmmessungen sind von Interesse für die Untersuchung
von akustischen Bauelementen oder auch die Streuung von akustischen Wellen.
Mit Hilfe der Phasenmessung läßt sich die Geschwindigkeit der Wellen
bestimmen. Durch die Messung der Geschwindigkeitsdispersion lassen sich die
elastischen Konstanten als Lösung des inversen Problems erhalten."
